Product Introduction
产品介绍
Kintex、Zynq、Artix
精度:20ps; 量程:73年; 数据接口:RS232、SPI、UDP、PCIE2.0X1-X8; 单通道最大测量速率:70MSPS on Zynq/Artix,90MSPS on Kintex。 连续数据吐出率 :180MSPS on Kintex with PCIE 2.0X8
基于Zynq及Artix
为了便于客户测试评估,瑟如电子现提供基于zynq(7020及以下)的评估版双通道TDC IP核。该IP核采用标准 AXI-lite、AXI-Stream接口,可方便地在Vivado 可视化设计环境中使用。免费供评估的IP核是全功能IP核,hit信号频率可高达70MHz,I,测时量程为70年。P核内集成FIFO可供每通道以最大速率测量2048个测试点(连续测量速率受限于IP核外的数据读出速率,通过使用DMA等技术可以轻易达到30Msa/s的连续测量速度)。
基于Xilinx KC705 开发板
SeruTek K732D是一款32通道TDC演示方案,该方案提供了开箱即用的ToF快速验证评估平台。只需少量的修改,就可应用于客户的定制环境,可极大地加快ToF系统设计,加速产品上市。K732D的目标应用包括:多通道时间间隔计数、激光雷达、激光脉冲测距、质谱分析、医学图像、半导体自动化测试及精密时间同步等领域。请移步下载页面,下载《K732D_32通道TDC演示方案》了解详情。
基于Xilinx Ultrascale MPSoc, 实现10ps测量精度
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